愛德萬測試發表全新行動電源管理IC測試方案

作者: 鉅亨網記者蔡宗憲 台北 | 鉅亨網 – 2013年7月17日 上午9:14

半導體測試設備廠愛德萬(Advantest)(ATE-US)測試宣佈,推出採V93000平台為基礎的行動電源管理IC(PMIC)測試解決方案,以業界最具成本效益之優勢,進軍系統單晶片(SoC)PMIC測試市場,愛德萬預計,V93000行動電源管理IC測試解決方案今年內將開始出貨。

愛德萬指出,V93000平台為基礎的行動電源管理IC(PMIC)測試解決方案,可相容於愛德萬測試廣受全球企業客戶採用的V93000系統,針對具嵌入式電源管理核心的複雜SoC元件,與單邊引腳封裝(Single In-Line Package;SiP)進行大量多點測試。

愛德萬表示,以行動電源管理IC而言,測試機台不僅要執行大量複雜測試,包括高達2000次元件特性分析測試、500次設計驗證測試及300次量產測試,且須配備各式各樣功能,才能因應SoC將類比與數位電路整合在同一顆IC上,並納入電源管理功能的高端設計需求。

愛德萬測試V93000行動電源管理IC測試解決方案,可提供具可擴充性的低測試成本架構,透過高密度模組進行大量並行同測,愛德萬指出,這套高密度測試解決方案是專為可攜式裝置最新電源管理技術所設計,如多重供應電壓 (Multi-Supply Voltage;MSV),此技術透過提供多個電源域,使電流分開配置使用,並利用電源供應關閉 (Power-Supply Shut Off;PSO)設計,在電源處於待命狀態時,保留個別電源區塊,延長電池使用壽命。

愛德萬表示,測試V93000行動電源管理IC測試解決方案預計今年內開始出貨。

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